Meny

IPC Erfaringsgruppemøte

Kongsberg 06.Juni.2019

 

Torsdag den 6. juni var det årets første IPC erfaringsgruppemøte. Gruppen teller i dag 26 virksomheter og 36 medlemmer og samles hos K-Tech, på Kongsberg to ganger i året.

Det verdenskjente danske kvalitetshuset «Hytek» står for sekretariatet og er også vertskap for en tilsvarende Dansk gruppe som også samles to ganger i året. Temaene for møtene i Norge og Danmark er forskjellige.

Foredragsholdere var blant andre, Ole Henrik Gussland fra Universitetet i sør-øst Norge (USN), med erfaring fra «Sensonor», «Memscap» og Universitetet i Sør Øst Norge (USN). Gussland er nå leder av laboratoriet, som blant annet har to SEM (elektronmikroskoper), SAM, rent rom, plasma etsere, flip-chip montering og utstyr for optiske analyser og arbeider med «nanoteknologi». ( https://www.norfab.no/)

Ram Wissel fra selskapet Kyzen, Nashville USA, hadde fløyet i ens ærend for å holde dette foredraget. Kyzen er en av de store selskapene innen rengjøringsmidler for vask av elektronikk. Han la vekt på historien bak vasking av elektronikk og at hovedutfordringen fortsatt er at å fjerne de ioniske forurensingene. Ram Wissel snakket videre om hvordan man i dag jobber med å løse utfordringer, for å fjerne forurensinger under dagens komponenttyper. Problematikken går under betegnelsen «narrow gap cleaning».

Wissel redegjorde også for det arbeidet som er nedlagt i IPC i forbindelse med ny revisjon IPC J-std-001G der det i ettertid er kommet ett «vedlegg» som stiller nye og strengere krav til renhet, og krav til objektive bevis i forbindelse med dokumentasjon av «renhet» på ett produkt. Vedlegget ble gitt ut 22. oktober i fjor og er allerede gjeldende.

Fra Elmatica kom Jan Pedersen og introduserte selskapet Elmaticas, historie. Elmatica er medlem av IPC og aktive i flere av IPC sine komiteer. Ved å samle all relevant informasjon som er nødvendig for å «bygge» ett mønsterkort, har Elmatica mye av æren for utviklingen av IPC2581 «circuit data». Det ble i tillegg delt informasjon om «non-functional-pads» og «warp and twist».

Dagens tema til Torgrim Nordhus, fra Norautron i Horten, var vertikale utfordringer i kretskortet, begrenset til «via hull». Presentasjonen var hovedsakelig vinklet mot feiltilstander for viahull, og en forklaring på hvorfor disse feiltilstandene oppstår. Grundige undersøkelser i mikroskop under flere gangers forstørrelse kan bevise at det virkelig finnes et problem med forbindelsen. Eksempler på brudd i via, ble vist og forklart. For å unngå denne type feil, så kan sliputstyr og mikroskoper med kamera, være med på å øke kunnskapen og bevisstheten rundt denne typen feilmekanismer.

Foredragene ble avrundet med spørsmål og forslag til agenda for møtet i uke 48.

http://www.ipc-erfa.dk/

Tekst basert på referat av Svein Kolbu og Torgrim Nordhus.

spørsmål om kurs?

Kontakt oss på kurs@k-tech.no
eller ring oss på 32 28 42 00.

Våre eiere

Vi er stolte av å ha aktive eiere som er verdensledende teknologibedrifter i sine markeder

Kongsberg Technology
Training Centre as

Postboks 1003
3601 Kongsberg
tlf 32 28 42 00
post@k-tech.no





PERSONVERN OG COOKIES